大学化学 >> 1993, Vol. 8 >> Issue (3): 34-38.doi: 10.3866/PKU.DXHX19930311
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熊裕堂, 王培兰
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摘要: 用于薄层色谱扫描的Kubelka-Munk方程式是测量参数反射比或透射比对定量参数吸光系数的较复杂的非线性函数。不能直接用于定量计算,本文综述了求算其反函数,建立定量分析工作曲线的四种数学处理方法,并对扫描光源、方式、噪音及背景信号作了一些探讨。
熊裕堂, 王培兰. 薄层色谱扫描定量分析原理[J]. 大学化学, 1993, 8(3): 34-38.
熊裕堂, 王培兰. 薄层色谱扫描定量分析原理[J]. University Chemistry, 1993, 8(3): 34-38.
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